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Autor González, Juan Manuel |
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Arias Mateus, Diego Fernando; Universidad Católica de Pereira ; Pérez, Diego ; González, Juan Manuel | Universidad Católica de Pereira | 2015-12-22In nanotechnology, one of the powerful tools is the atomic force microscope (AFM). Instrument used to characterize materials superficially. Nanoscale hardness (nanohardness) using nanoindentation method spectroscopy mode is considered when evalu[...]