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Autor Mártil de la Plaza, Ignacio |
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Mártil de la Plaza, Ignacio ; García Hemme, Eric ; González Díaz, Germán ; Olea Ariza, Javier ; Prado Millán, Álvaro del | IOP publishing ltd | 2011-11-09We assess the degree of crystallinity by means of UV and visible Raman scattering measurements of Ti implanted Si layers with very high doses (10(15)-5 x 10(16) cm(-2)) subsequently annealed by nanosecond pulsed laser melting (PLM). We obtain ul[...]