Título: | Integración de patrones de seguridad y patrones de diseño J2EE |
Autores: | Parra Valdés, Wilmer Eduardo |
Tipo de documento: | texto impreso |
Fecha de publicación: | 2014 |
Dimensiones: | application/pdf |
Nota general: |
cc_by_nc info:eu-repo/semantics/openAccess |
Idiomas: | |
Palabras clave: | Estado = No publicado , Materia = Ciencias: Informática: Lenguajes de programación , Materia = Ciencias: Informática: Seguridad informática , Tipo = Trabajo Fin de Máster |
Resumen: |
El presente trabajo analiza dos de los catálogos de patrones de diseño de software más populares que provienen de la experiencia de Sun Microsystems (actualmente Oracle Corporation), define las relaciones existentes entre ellos para proporcionar un uso coherente de ambos catálogos y presenta el modelado de dos casos prácticos de aplicaciones que integran patrones de los dos catálogos analizados. Los patrones pertenecientes al Catálogo Core Security Patterns (CSP) (Steel et al. 2005)se han analizado de forma individual y se han interpretado en el contexto Core J2EE Pattern Catalogue (CJP) (Alur et al. 2003). En este estudio se ha considerado: (i) la interpretación de los patrones de CSP en términos de arquitectura multicapa (es decir, el catálogo de patrones CJP); (ii) la información adicional incluida en el catálogo del CSP para facilitar su comprensión; (iii) los requisitos previos CJP para entender los patrones de CSP; y (iv) los requisitos previos CSP para la comprensión del patrón CSP analizado. Los resultados de este trabajo tienen una doble aplicabilidad. Desde un punto de vista industrial, este trabajo facilita el uso de patrones de seguridad en el contexto de una arquitectura multicapa. Desde un punto de vista educativo, este trabajo establece una relación de precedencia entre los patrones multicapa y los de seguridad, y define además un subconjunto de patrones multicapa como el mínimo necesario para comprender los patrones de seguridad. De esta forma se facilita la docencia de los patrones CSP. |
En línea: | https://eprints.ucm.es/id/eprint/26475/1/TFM%20-%20INTEGRACI%C3%93N%20DE%20PATRONES%20DE%20SEGURIDAD%20Y%20PATRONES%20DE%20DISE%C3%91O%20J2EE.pdf |
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