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Cremades Rodríguez, Ana Isabel ; Albrecht, M. ; Ulloa, J.M. ; Piqueras de Noriega, Javier ; Strunk, H.P. ; Hanser, D. ; Davis, R. F. | Materials Research Society | 2000A series of 100 nm thick InGaN films with In content up to 14% has been grown by MOVPE on SiC substrates. Optical characterization was carried out by means of reflectance spectrometry, photoluminescence and cathodoluminescence. Optical propertie[...]
