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O'Donnell, KP ; Katchkanova, V. ; Wang, K. ; Martin, R.W. ; Edwards, P.R. ; Hourahine, B. ; Nogales Díaz, Emilio ; Mosselmans, J.F.W. ; De Vries, B. | Materials Research Society | 2005This presentation reviews recent lattice location studies of rare earth (RE) ions in GaN by electron emission channelling (EC) and X-ray absorption fine structure (XAFS) techniques. These studies agree that RE ions at low concentrations (whether[...]
