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Albrecht, M. ; Cremades Rodríguez, Ana Isabel ; Krinke, J. ; Christiansen, S. ; Ambacher, O. ; Piqueras de Noriega, Javier ; Strunk, H. P. ; Stutzmann, M. | Wiley-V C H Verlag Gmbh | 1999-11We analyse the recombination and scattering at dislocations in Si doped AlGaN layers by transmission electron microscopy (TEM), electron beam induced current (EBIC) and cathodoluminescence. We show that c-type screw dislocations are nonradiative[...]
