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Franco Peláez, Francisco Javier ; Palomar Trives, Carlos ; Liu, Shih Fu ; López Calle, Isabel ; Maestro de la Cuerda, Juan Antonio ; Agapito Serrano, Juan Andrés | IEEE-Inst Electrical Electronics Engineers Inc | 2011-09-19Unlike for memory elements inside integrated circuits, scarce life tests have been performed to study single event transients in discrete analog devices. The reason is that life tests require a large amount of samples to be stored for having eno[...]texto impreso
Maestro de la Cuerda, Juan Antonio | Universidad Complutense de Madrid, Servicio de Publicaciones | 1999El trabajo desarrollado en la presente tesis ha ido encaminado hacia la investigación de nuevas técnicas de estimación aplicadas al particionamiento hardware-software. Tradicionalmente, se ha venido utilizando una extensión de las metodologías d[...]
