Información del autor
Documentos disponibles escritos por este autor (1)
Añadir el resultado a su cesta Hacer una sugerencia Refinar búsqueda
texto impreso
Panin, G. ; Piqueras de Noriega, Javier ; Sochinskii, N. V. ; Dieguez, E. | Elsevier Science SA | 1996-12-15The origin and spatial distribution of radiative defects in undoped and Ge-doped CdTe wafers have been studied by CL spectroscopy and imaging techniques in the scanning electron microscope (SEM) before and after the wafer annealing in HgI2 vapor[...]
