| Título: | Study of charged defects in CdTe and CdHgTe by scanning electron and tunneling microscopy techniques |
| Autores: | Panin, G. N. ; Díaz-Guerra Viejo, Carlos ; Piqueras de Noriega, Javier |
| Tipo de documento: | texto impreso |
| Editorial: | Mezhdunarodnaya Kniga, 1998-03 |
| Palabras clave: | Estado = Publicado , Materia = Ciencias: Física: Física de materiales , Tipo = Artículo |
Ejemplares
| Estado |
|---|
| ningún ejemplar |
